鎳鍍層測厚儀PMP10
運用了符合ISO/DIS21968
標準草案的相移渦流法。
與依據(jù)DIN EN ISO 2360的傳統(tǒng)渦流法相比，在金屬涂鍍層的厚度測量方面，相移渦流法有著明顯的優(yōu)勢。
測量結(jié)果受鍍層磁性影響，需要客戶的產(chǎn)品制作標準片
.ESD20Ni用于測量鐵上鍍鎳層的厚度
240KHZ時，1-50um(0.04-2 mils)
60KHZ時，2-100um(
與依據(jù)DIN EN ISO 2360的傳統(tǒng)渦流法相比，在金屬涂鍍層的厚度測量方面，相移渦流法有著明顯的優(yōu)勢。
測量結(jié)果受鍍層磁性影響，需要客戶的產(chǎn)品制作標準片
.ESD20Ni用于測量鐵上鍍鎳層的厚度
240KHZ時，1-50um(0.04-2 mils)
60KHZ時，2-100um(
產(chǎn)品內(nèi)容
鎳鍍層測厚儀 PHASCOPE PMP10
運用了符合ISO/DIS21968
標準草案的相移渦流法。與依據(jù)DIN EN ISO 2360的傳統(tǒng)渦流法相比，在金屬涂鍍層的厚度測量方面，相移渦流法有著明顯的優(yōu)勢。
測量結(jié)果受鍍層磁性影響，需要客戶的產(chǎn)品制作標準片
.ESD20Ni用于測量鐵上鍍鎳層的厚度
240KHZ時，1-50um(0.04-2 mils)
60KHZ時，2-100um(0.08-4 mils)
上一條:銅箔測厚儀RMP30-S
